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恒奧德儀新款聲波測厚儀應用使用巧
中教育裝備采購網(wǎng) 2018/7/17 9:19:25 圍觀956次
恒奧德儀新款聲波測厚儀應用使用巧
聲波測厚儀是根據(jù)聲波脈沖反射原理來行厚度測量的，當探頭發(fā)射的聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過測量聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使聲波以恒定速度在其內(nèi)傳播的各種材料均可采用此原理測量。
簡介
聲波測厚儀是采用新的性能、低耗微處理器，基于聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速行測量?？梢詫υO(shè)備中各種管道和壓力容器行厚度測量，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種零件作測量。
本測厚儀采用脈沖反射聲波測量原理，適用于聲波能以恒定速度在其內(nèi)傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種零件作測量?？蓮V泛應用于石油、化、冶金、船、航空、航天等各個域。
相關(guān)應用
由于聲波處理方便，并有良好的向性，聲測量金屬，非金屬材料的厚度，既快又準確，無污染，尤其是在只許可個側(cè)面可按觸的場合，更能顯示其性，廣泛用于各種板材、管材壁厚、鍋爐容器壁厚及其局腐蝕、銹蝕的情況，因此對冶金、船、機械、化、電力、原子能等各業(yè)的產(chǎn)品檢驗，對設(shè)備安運行及現(xiàn)代化管理起著主要的作用。
聲清洗與聲波測厚儀僅是聲應用的分，還有很多域都可以應用到聲。比如聲波霧化、聲波焊接、聲波鉆孔、聲波研磨、聲波液位計、聲波物位計、聲波拋光、聲波清洗機、聲馬達等等。聲波將在各行各業(yè)得到越來越廣泛的應用。
聲波鉆孔、聲波研磨、聲波液位計、聲波物位計、聲波拋光、聲波清洗機、聲馬達等等。聲波將在各行各業(yè)得到越來越廣泛的應用。
使用巧
般測量
測量法
在規(guī)定的測量點周圍增加測量數(shù)目，厚度變化用等厚線表示。
折疊連續(xù)測量法
用單點測量法沿路線連續(xù)測量，間隔不大于5mm。
網(wǎng)格測量法
在區(qū)域劃上網(wǎng)格，按點測厚記錄。此方法在壓設(shè)備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測中廣泛使用。
5、影響測量示值的因素
(1)件表面粗糙度過大，成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕，耦合效果差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。
(2)件曲率半徑太小，尤其是小徑管測厚時，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點接觸或線接觸，聲強透射率低(耦合不好)?？蛇x用小管徑用探頭(6mm ),能較的測量管道等曲面材料。
(3)檢測面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無法接受到底波信號。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，聲波在其中穿過時產(chǎn)生嚴重的散射衰減，被散射的聲波沿著復雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，成不顯示?？蛇x用頻率較低的粗晶用探頭(2.5MHz)。
(5)探頭接觸面有定磨損。常用測厚探頭表面為丙烯樹脂，長期使用會使其表面粗糙度增加，導致靈敏度下降，從而成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨，使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則考慮更換探頭。
(6)被測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另面有銹斑、腐蝕凹坑，成聲波衰減，導致讀數(shù)無規(guī)則變化，在端情況下甚至無讀數(shù)。
(7)被測物體(如管道)內(nèi)有沉積物，當沉積物與件聲阻抗相差不大時，測厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
(8)當材料內(nèi)存在缺陷(如夾雜、夾層等)時，顯示值約為公稱厚度的70%，此時可用聲波探傷儀步行缺陷檢測。
(9)溫度的影響。般固體材料中的聲速隨其溫度升而降低，有試驗數(shù)據(jù)表明，熱態(tài)材料每增加100°C，聲速下降1%。對于溫在役設(shè)備常
常碰到這種情況。應選用溫用探頭(300-600°C)，切勿使用普通探頭。
(10)層疊材料、復合(非均質(zhì))材料。要測量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的，因聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間，而且不能在復合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對于由多層材料包扎制成的設(shè)備(像尿素壓設(shè)備)，測厚時要別注意，測厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。
10)層疊材料、復合(非均質(zhì))材料。要測量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的，因聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間，而且不能在復合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對于由多層材料包扎制成的設(shè)備(像尿素壓設(shè)備)，測厚時要別注意，測厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。
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