描述：產(chǎn)品簡(jiǎn)介：分子篩比表面分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
| 品牌 | 貝士德 | 儀器原理 | 靜態(tài)法（靜態(tài)體積法） |
|---|---|---|---|
| 壓力范圍 | 真空-常壓 | 測(cè)試?yán)碚?/th> | BET BJH HK DA DR NLDFT QSDFT |
| 測(cè)試范圍 | 比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm㎡/g | 分析站數(shù)目 | 1/2 |
| 價(jià)格區(qū)間 | 30萬-50萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類 | 比表面及孔徑分析儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源 |
BSD-PM系列分子篩比表面分析儀性能參數(shù)
測(cè)試?yán)碚摚?/span>
吸附、脫附等溫線測(cè)定 BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)；
朗格繆爾(Langmuir)比表面 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面；
BJH法孔容孔徑分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；
D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；
H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；
DFT孔徑分析; 真密度測(cè)試、粒度估算報(bào)告。
BSD-PM1/2 靜態(tài)容量法 分子篩比表面分析儀
產(chǎn)品概述：
◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)
◆ 吸附質(zhì)種類：各種非腐蝕性氣體測(cè)試
◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm
◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；
技術(shù)參數(shù) / Technical Parameter
◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)
◆ 吸附質(zhì)種類：各種非腐蝕性氣體測(cè)試
◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm
◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；
◆ 脫氣站數(shù)量：2個(gè)預(yù)處理站；
◆ 獨(dú)立性：測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立，樣品的測(cè)試過程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行；
◆ 測(cè)試精度：比表面積≤±1.0%、最可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.15nm、真密度 ≤±0.04%、外表面積≤±1.5
◆ 獨(dú) 立P0站：具有技術(shù)的獨(dú)立螺旋狀飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性
◆ 程序升溫脫氣：軟件控制程序升溫，室溫-400℃，精度優(yōu)于0.1℃；
◆ 極限真空：
PＭ系列：１臺(tái)德國愛德華渦輪分子泵＋２臺(tái)機(jī)械泵，P/P0低至10-8
◆ 壓力測(cè)量：
PM系列：每個(gè)測(cè)試位配多支0-1 torr以及0-1000 Torr壓力傳感器（0-0.1Torr可選）
技術(shù)優(yōu)勢(shì) Technical Advantages
◆ 渦旋降塵原理的防污染技術(shù)；
◆ 模塊化的氣路系統(tǒng)設(shè)計(jì)；
◆ 氣控閥加電磁閥組合應(yīng)用技術(shù)（真正零發(fā)熱）；
◆ 不銹鋼螺旋 P0；
◆ P/P0 可達(dá) E-9, 分子泵；
◆ 多級(jí)壓力傳感器；
